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光學(xué)測(cè)量?jī)x器,下面一起來(lái)了解下。
光學(xué)影像測(cè)量?jī)x是集光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)于一體的高精度、效率高、高可靠性的測(cè)量?jī)x器。由光學(xué)放大系統(tǒng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大,經(jīng)過(guò)CCD攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后,可以效率高地檢測(cè)各種復(fù)雜零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置,進(jìn)行微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制。 在實(shí)際應(yīng)用中,盡管光學(xué)計(jì)量?jī)x器多種多樣,但它們的光學(xué)原理卻都基于四種基本原理,它們是:望遠(yuǎn)光學(xué)原理、顯微光學(xué)原理、投影光學(xué)原理、干涉光學(xué)原理?;趹?yīng)用不同的光學(xué)原理,光學(xué)計(jì)量?jī)x器可分為:自準(zhǔn)直類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、顯微鏡類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、投影類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、光干涉類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器四大類(lèi)。
光電探測(cè)技術(shù)是現(xiàn)代信息獲取的主要手段之一,光電探測(cè)技術(shù)的發(fā)展是隨著其他關(guān)鍵技術(shù)的發(fā)展而發(fā)展的,由于激光技術(shù)、光波導(dǎo)技術(shù)、光電子技術(shù)
光纖技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,以及新材料、新器件、新工藝的不斷涌現(xiàn),光電探測(cè)技術(shù)取得了巨大發(fā)展。近年來(lái),光電探測(cè)技術(shù)引起了業(yè)內(nèi)人士的普遍關(guān)注,在軍事和民用領(lǐng)域占有越來(lái)越重要的地位。近年來(lái)涌現(xiàn)出的各種新型光電探測(cè)技術(shù),包括微光探測(cè)、偏振探測(cè)、量子探測(cè)、單光子探測(cè)技術(shù)。
光學(xué)測(cè)量?jī)x器選擇首先要做到符合要求。比如,一臺(tái)高精度的研發(fā)級(jí)別的光譜儀,并不一定適合日常對(duì)顯示設(shè)備的校正,由于其精度高導(dǎo)致速度慢;由于光譜儀一般為非接觸式的儀器,那么對(duì)環(huán)境要求就比較高。
一個(gè)正確的流程應(yīng)該是用低級(jí)的能保證測(cè)量速度和穩(wěn)定性的色度計(jì)采集數(shù)據(jù)校正,用一臺(tái)精度高符合標(biāo)準(zhǔn)的光譜儀來(lái)對(duì)色度計(jì)做一組校正數(shù)據(jù)(Offset),這樣可以保證色度計(jì)在大部分亮度校正時(shí)的準(zhǔn)確測(cè)量。
馬爾測(cè)量始于1861年。19世紀(jì)的工業(yè)革命不僅促進(jìn)了制造業(yè)快速發(fā)展,同時(shí)喚起了對(duì)機(jī)械零件加工的精度要求。我們的工作就是確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。作為世界測(cè)量?jī)x器的頂級(jí)生產(chǎn)商之一,多年以來(lái),馬爾的產(chǎn)品已涉及許多領(lǐng)域,并成為專(zhuān)業(yè)的測(cè)量應(yīng)用專(zhuān)家。
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